X-RAY XULM 240 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測(cè)厚儀介紹：

        多用途的鍍層厚度測(cè)量?jī)x。無(wú)論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過(guò)選擇好的高壓濾片組合很好地測(cè)量。微聚焦管可以達(dá)到在很短的測(cè)量距離內(nèi)小到100 μm的測(cè)量點(diǎn)大小。高達(dá)數(shù)kcps的計(jì)數(shù)率可以被比例接收器接收到。對(duì)于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來(lái)說(shuō)，X射線源和接收器位于測(cè)量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡(jiǎn)化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測(cè)量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測(cè)量室，這樣大的物品也可以測(cè)量。殼體的開(kāi)槽設(shè)計(jì)（C型槽）可以測(cè)量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無(wú)法*放入測(cè)量室，樣品直接放置在平整的支撐臺(tái)上，或者定位精度更高的手動(dòng)XY工作臺(tái)上。

XULM 240介紹：

XULM適合測(cè)量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測(cè)量點(diǎn)小可達(dá)約100μｍ，同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對(duì)高的計(jì)數(shù)率。即使很短的測(cè)量時(shí)間也可以達(dá)到很好的重復(fù)精度。此外，XULM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵(lì)條件。

特征:
□ 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口
       和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條
       件:50KV,50W
□ X射線探測(cè)器采用比例接收器
□ 準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x
       0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
□ 基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換
□ 測(cè)量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整
□ 固定的樣品支撐臺(tái)或手動(dòng)XY工作臺(tái)
□ 攝像頭用來(lái)查看基本射線軸向方向的測(cè)量
       位置。刻度線經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
□ 設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國(guó)X射
       線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：
□ 線路板行業(yè)Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB
       等鍍層的測(cè)量
□ 電子行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的鍍層測(cè)量
       electronics industry
□ 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
□ 批量生產(chǎn)部件（螺絲和螺母）防腐鍍層測(cè)
       量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe
□ 珠寶和手表行業(yè)
□ 測(cè)定電鍍槽中的金屬含量

應(yīng)用實(shí)例:

XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測(cè)量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。