DualScope FMP20/FMP40雙功能型測厚儀的詳細資料：

DualScope FMP20/FMP40雙功能型測厚儀

DualScope FMP20/FMP40
雙功能DualScope FMP20/FMP40該通用型號為磁感應(yīng)和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數(shù)的擴展內(nèi)存，多達100個可校準應(yīng)用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

DualScope FMP20/FMP40雙功能型測厚儀

FMP10和 FMP20型儀器的功能

• 可以配合所有基于磁感應(yīng)法和渦流法的探頭使用 • 自動識別探頭

• 自動識別底材 (FMP20)

• 儀器操作界面友好

• USB接口可以連接計算機

• 240x160像素高對比度大尺寸顯示屏

• 開機后即可測量

• 插入探頭即可測量

• 測量完成后聲音提示

• 通過簡單的零位修正就能適應(yīng)底材形狀(歸一化)

• 校準簡便(使用一到兩片箔片)

• 針對罕見材料或者形狀復雜的產(chǎn)品設(shè)置主校準模式   (需配合主校準標準片使用)

• 可以調(diào)節(jié)儀器自動關(guān)機時間和連續(xù)使用時間

• 儀器狀態(tài)顯示(例如：電量低時出現(xiàn)的警告信息)

• 鍵盤鎖/功能限制模式

• 滑蓋保護鍵盤

• 多語言顯示

• 測量結(jié)果的單位可在μm和mils之間切換

應(yīng)用程式存儲

• 可以儲存一個應(yīng)用程式，包括校準信息。

統(tǒng)計和計算

• 顯示統(tǒng)計數(shù)據(jù)，例如：平均值、標準偏差、  zui大和zui小值、讀數(shù)范圍。

測量方式

• 單次測量 • 用“連續(xù)測量”模式測量可以對樣品表面進行  連續(xù)掃描。

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FMP30和 FMP40型儀器的功能 (相對于FMP10 和FMP20型儀器增加的功能)

儀器功能

• 自動識別底材 (FMP40).

• 外部觸發(fā)測量  （例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）

• 使用未知材料的鍍層進行校準（僅限于磁感應(yīng)法）

• USB接口可以連接計算機和打印機

• 電池供電和交流電源(可選件)供電

應(yīng)用程式存儲

• 可以儲存100個應(yīng)用程式，包括校準信息。

• 可以儲存 20,000 個讀數(shù)

• 可以儲存 4,000 個數(shù)據(jù)組

• 數(shù)據(jù)組包含日期和時間信息

• 糾正已儲存的讀數(shù)

• 應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個應(yīng)用程式能使用相同的  歸一化/校準信息

• 通過電腦計算機可以編輯應(yīng)用程式名稱 （可選件：MP-Name軟件）

統(tǒng)計和計算

• 數(shù)據(jù)組統(tǒng)計值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值

• 測量數(shù)據(jù)直方圖顯示

• 可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

• 測量結(jié)果超出公差范圍時儀器發(fā)出視覺和聲音警告

測量方式

• 連續(xù)測量模式下，測量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi)  模擬顯示

• 可使用矩陣測量模式進行大量測量

• 取平均值：只儲存若干個測量數(shù)據(jù)的平均值

• 區(qū)域測量：提起探頭后才儲存測量過程中的平均值

• 自動測量：無需提起探頭，儀器自動獲得數(shù)值

• 離奇值控制：儀器可自動排除錯誤的測量值

便攜式測量儀器具有集成或可互換的探頭，用于直接在工件上測量涂層厚度。

DualScope FMP40

雙功能FMP40 |該通用型號為磁感應(yīng)和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數(shù)的擴展內(nèi)存，多達100個可校準應(yīng)用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

•外部按鍵觸發(fā)測量采集
•超過公差限制時的視覺和視覺警告
•選項藍牙或COM附加可用于默認USB接口
測量應(yīng)用記憶體： -
•多達100個測量應(yīng)用的應(yīng)用存儲器，包括 校準
•內(nèi)存多達20,000張讀數(shù)
•將讀數(shù)分配到4,000個塊
•塊的日期和時間戳
•測量應(yīng)用的通用歸一化/校準
•通過標準測試測量驗證校正校準、

該手持設(shè)備用于測量所有金屬上的涂層厚度，即非破壞性。 該儀器具有許多功能，包括自動基板材料識別和圖形測量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項和相關(guān)過程能力指標cp和cpk的計算。 如果超過公差設(shè)定限制，則可以給出聲音和視覺警告。

該器件配有多種探頭。 它還具有FISCHER DataCenter軟件，便于傳輸和歸檔測量數(shù)據(jù)。 它可以打印報告并提供全面的統(tǒng)計和圖形評估。 該設(shè)備適用于汽車工業(yè)，油漆制造加工和實驗室等行業(yè)。 它也可以用于測試機構(gòu)和航空業(yè)。

測量策略與評估：
•根據(jù)IMO PSPC，SSPC-PA2，QUALANOD和QUALICOAT存儲的測量規(guī)格
•相關(guān)多點測量的矩陣測量模式
•測量數(shù)據(jù)的平均值
•通過面積測量進行測量采集

典型應(yīng)用：

DELTASCOPE®用于鋼和鐵的涂層

ISOSCOPE®用于鋁和其他有色金屬涂料
DUALSCOPE®具有自動基板識別和兩種測量技術(shù)（磁感應(yīng)和渦流）的組合; DUALSCOPE可以測量鐵/鋼或非鐵磁金屬和非導電基材上的各種涂層
有色金屬，鐵或鋼的微米范圍內(nèi)的涂層
由有色金屬制成的厚涂層或鋼板上的保護涂層