QNix4200測(cè)厚儀中文說(shuō)明書的詳細(xì)資料：

QNix4200測(cè)厚儀中文說(shuō)明書

如何使用尼克斯測(cè)厚儀測(cè)量的更準(zhǔn)確

基體金屬特性：對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，無(wú)損檢測(cè)資源網(wǎng) 如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
邊緣效應(yīng):不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
曲率:不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
讀數(shù)次數(shù):通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
表面清潔度:測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

QNix4200測(cè)厚儀中文說(shuō)明書

儀器使用：

1.開(kāi)機(jī)： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí)，儀器將自動(dòng)開(kāi)機(jī)。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí)，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起，離開(kāi)被測(cè)物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測(cè)量。）
2.設(shè)置： 開(kāi)機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix4500 為 4 個(gè)選項(xiàng)，QNix4200 為 2 個(gè)選 項(xiàng)，
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix4500）， “Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式（僅 QNix4500）， “取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）。按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后，進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe”選項(xiàng)上停留 2 秒后，儀器顯示Fe 測(cè)量模式，這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別）模式下工作。
進(jìn)入“取平均值”選項(xiàng)后，儀器顯示取平均值，在“開(kāi)”選項(xiàng)上停留 2 秒后，取平均值開(kāi)啟，測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量），測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“— X ”符號(hào)時(shí)表示取平均值開(kāi)啟，如不需要請(qǐng)關(guān)閉（在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”）即可。

3.測(cè)量：

（1）調(diào)零：

儀器在測(cè)量前，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零，因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同，會(huì)造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開(kāi)，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照，拿起探頭”或聽(tīng)到儀器響聲后，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽(tīng)到響 聲后，液晶顯示 0，調(diào)零完畢。

注意：由于工件表面粗糙度等原因，調(diào)零后，再測(cè)時(shí)不一定是的零位， 這是正?，F(xiàn)象。
（2）測(cè)量：

將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面，儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

注意：測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面、并壓實(shí)，每測(cè)量一次后將 儀器拿起，離開(kāi)被測(cè)物 10 ㎝以上，再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。