DualScope FMP20/FMP40雙功能測厚儀的詳細資料：

DualScope FMP20/FMP40

DualScope FMP20/FMP40
雙功能該通用型號為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數(shù)的擴展內(nèi)存，多達100個可校準應用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

FMP10和 FMP20型儀器的功能

• 可以配合所有基于磁感應法和渦流法的探頭使用 • 自動識別探頭

• 自動識別底材 (FMP20)

• 儀器操作界面友好

• USB接口可以連接計算機

• 240x160像素高對比度大尺寸顯示屏

• 開機后即可測量

• 插入探頭即可測量

• 測量完成后聲音提示

• 通過簡單的零位修正就能適應底材形狀(歸一化)

• 校準簡便(使用一到兩片箔片)

• 針對罕見材料或者形狀復雜的產(chǎn)品設(shè)置主校準模式   (需配合主校準標準片使用)

• 可以調(diào)節(jié)儀器自動關(guān)機時間和連續(xù)使用時間

• 儀器狀態(tài)顯示(例如：電量低時出現(xiàn)的警告信息)

• 鍵盤鎖/功能限制模式

• 滑蓋保護鍵盤

• 多語言顯示

• 測量結(jié)果的單位可在μm和mils之間切換

應用程式存儲

• 可以儲存一個應用程式，包括校準信息。

統(tǒng)計和計算

• 顯示統(tǒng)計數(shù)據(jù)，例如：平均值、標準偏差、  zui大和zui小值、讀數(shù)范圍。

測量方式

• 單次測量 • 用“連續(xù)測量”模式測量可以對樣品表面進行  連續(xù)掃描。

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便攜式測量儀器具有集成或可互換的探頭，用于直接在工件上測量涂層厚度。

DualScope FMP40

雙功能FMP40 |該通用型號為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數(shù)的擴展內(nèi)存，多達100個可校準應用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

•外部按鍵觸發(fā)測量采集
•超過公差限制時的視覺和視覺警告
•選項藍牙或COM附加可用于默認USB接口
測量應用記憶體： -
•多達100個測量應用的應用存儲器，包括 校準
•內(nèi)存多達20,000張讀數(shù)
•將讀數(shù)分配到4,000個塊
•塊的日期和時間戳
•測量應用的通用歸一化/校準
•通過標準測試測量驗證校正校準、

該手持設(shè)備用于測量所有金屬上的涂層厚度，即非破壞性。 該儀器具有許多功能，包括自動基板材料識別和圖形測量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項和相關(guān)過程能力指標cp和cpk的計算。 如果超過公差設(shè)定限制，則可以給出聲音和視覺警告。

該器件配有多種探頭。 它還具有FISCHER DataCenter軟件，便于傳輸和歸檔測量數(shù)據(jù)。 它可以打印報告并提供全面的統(tǒng)計和圖形評估。 該設(shè)備適用于汽車工業(yè)，油漆制造加工和實驗室等行業(yè)。 它也可以用于測試機構(gòu)和航空業(yè)。

測量策略與評估：
•根據(jù)IMO PSPC，SSPC-PA2，QUALANOD和QUALICOAT存儲的測量規(guī)格
•相關(guān)多點測量的矩陣測量模式
•測量數(shù)據(jù)的平均值
•通過面積測量進行測量采集

典型應用：

DELTASCOPE®用于鋼和鐵的涂層

ISOSCOPE®用于鋁和其他有色金屬涂料
DUALSCOPE®具有自動基板識別和兩種測量技術(shù)（磁感應和渦流）的組合; DUALSCOPE可以測量鐵/鋼或非鐵磁金屬和非導電基材上的各種涂層
有色金屬，鐵或鋼的微米范圍內(nèi)的涂層
由有色金屬制成的厚涂層或鋼板上的保護涂層