Fischer MP0小型測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

Fischer MP0小型測(cè)厚儀

德國菲希爾MP0測(cè)厚儀包含兩種不同的方法，根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應(yīng)方法，用來測(cè)量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。德國菲希爾MP0測(cè)厚儀膜厚儀能自動(dòng)地識(shí)別被測(cè)材料并選擇適合的測(cè)試方法。

Fischer MP0小型測(cè)厚儀

儀器指標(biāo)，符合測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)：
量 程：0～2000μm。分辨率：0.00um
精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。
重復(fù)精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
zui小測(cè)量曲率直徑：在精度范圍內(nèi)，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；
（在允許誤差＜10%時(shí)，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）。
zui小測(cè)量面積直徑：φ4mm（在允許誤差＜10%時(shí)，為φ2mm）。
zui小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時(shí)）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時(shí)）。
重 量：60g（不含電池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
電 源：兩節(jié)5號(hào)電池。

測(cè)厚儀分類詳情：

1、接觸式測(cè)厚儀

接觸面積大小劃分：

點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀

面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀

非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：

激光測(cè)厚儀

超聲波測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀

X射線測(cè)厚儀

白光干涉測(cè)厚儀

電解式測(cè)厚儀

管厚規(guī)