菲希爾測厚儀DualScope FMP40產(chǎn)品使用說明的詳細(xì)資料：

菲希爾測厚儀DualScope FMP40產(chǎn)品使用說明

菲希爾測厚儀DualScope FMP40產(chǎn)品使用說明

菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀特點(diǎn)：（菲希爾DualScope FMP40上海Fischer代理）

• FMP40涂層測厚儀自動(dòng)識(shí)別底材

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀能夠通過外部觸發(fā)測量（例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）

• 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀電池供電和交流電源(可選件)供電

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀可以儲(chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀可以儲(chǔ)存 20,000 個(gè)讀數(shù)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀可以儲(chǔ)存 4,000 個(gè)數(shù)據(jù)組

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀的數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀能夠手動(dòng)糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀能夠通過電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀擁有數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀能夠展現(xiàn)測量數(shù)據(jù)直方圖顯示

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀的測量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺和聲音警告

菲希爾DualScope FMP40測厚儀能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。菲希爾DualScope FMP40測厚儀由于集合了兩種測量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測量過程中同時(shí)測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。

采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀采用的磁感應(yīng)方法：
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場區(qū)域，該磁場的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀探頭測量線圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。

DUALSCOPE FMP40涂鍍層測厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
上海Fischer代理菲希爾DualScope FMP40測厚儀 磁感應(yīng)方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場區(qū)域，該磁場的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測量線圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
上海Fischer代理菲希爾DualScope FMP40測厚儀 電渦流方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場區(qū)域，該磁場在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場區(qū)域削弱初級(jí)磁場區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來。

 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.