德國Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
代理Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀德國原產(chǎn)
電解測厚儀又叫做庫侖法測厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層測厚、鎳層測厚、銅層測厚、鋅層測厚、錫層測厚、銀層測厚、金層測厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。電解測厚儀具有測試多層復(fù)合測量模式等特點(diǎn)，適用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標(biāo)準(zhǔn)件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。
Benchtop unit for coulometric coating thickness measurement of virtually all metallic coatings on metallic or nonmetallic substrates; of individual layers or multi-layers.
Couloscope CMS2根據(jù)庫侖電量分析法進(jìn)行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
COULOSCOPE CMS
該多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進(jìn)行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
特點(diǎn)
庫侖析法電解鍍層，符合 DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)
V18測量臺通過控制氣泵具有自動充填和清空測量槽中電解液功能
大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測量結(jié)果
典型應(yīng)用領(lǐng)域
該儀器幾乎可以測量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。 甚至可以測量多層鍍層.
測量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，鍍層也可以是多鍍層。典型的可測量厚度范圍 0.05 – 40 μm。 也適用于線材上鍍層的測量
Features
Coulometric method acc. to standard DIN EN ISO 2177 by deplating the coating
Automatic filling and emptying of the measuring cell by pump control with V18 stand
Large graphical LCD supports operation and coating results
Typical fields of application
Measurements on virtually any metal coating on a metallic or non-metallic substrate, including multiple coatings. Typical thickness range 0.05 – 40 µm. Also for coated wires.
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