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菲希爾臺式X熒光射線測厚儀XDAL237信息
點擊次數(shù)：88 更新時間：2025-12-23 打印本頁面 返回
菲希爾臺式X熒光射線測厚儀XDAL237
菲希爾XDAL237是一款高性能通用型能量色散X熒光測厚儀，專為超薄涂層測量與自動化檢測設(shè)計，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量保證與生產(chǎn)監(jiān)控領(lǐng)域。儀器搭載高精度可編程XY工作臺與電動Z軸，保護(hù)罩開啟時工作臺自動移至裝載位，配合激光定位與高分辨率彩色攝像頭，可實現(xiàn)測量點的快速對準(zhǔn)與精準(zhǔn)定位，測量點直徑最小可達(dá)0.15mm。
核心優(yōu)勢在于配備硅針二極管、硅漂移探測器等多種探測選項，搭配4種可切換準(zhǔn)直器與3種初級濾波器，能為不同測量需求創(chuàng)造理想激發(fā)條件，可精準(zhǔn)測量≤0.05μm的超薄涂層，同時支持固體、液體樣品及復(fù)雜多層涂層系統(tǒng)分析，還能測定焊料中的鉛含量。借助菲希爾基礎(chǔ)參數(shù)法，無需校準(zhǔn)即可完成測量，顯著降低操作成本。儀器機身設(shè)有開槽設(shè)計，可適配大型印刷電路板等超大樣品測量，通過WinFTM®軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時傳輸、分析與導(dǎo)出，符合DIN ISO 3497、ASTM B 568及德國R?V法規(guī)要求，是電子半導(dǎo)體行業(yè)功能性涂層檢測的理想設(shè)備。
