聯(lián)系方式
技術(shù)文章首頁 > 技術(shù)文章 > 全部文章
COULOSCOPE CMS2 STEP 主要功能信息
點(diǎn)擊次數(shù)：254 更新時(shí)間：2025-09-01 打印本頁面 返回
COULOSCOPE CMS2 STEP 主要功能
同步測量
可同時(shí)測量鍍層厚度和電位差，提升檢測效率與數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)性。
標(biāo)準(zhǔn)測試支持
依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行電位差測試：
ASTM B764 - 04
DIN EN 16866
電極預(yù)處理功能
支持銀參比電極使用前的活化處理，自動(dòng)生成必要的 AgCl 層，確保測量精度。
可調(diào)電解電流
用戶可根據(jù)不同材料和鍍層需求，靈活調(diào)節(jié)電解電流。
即時(shí)評(píng)估能力
電位曲線可直接在測厚儀顯示屏上實(shí)時(shí)顯示與分析，便于現(xiàn)場判斷。
應(yīng)用領(lǐng)域
1. 生產(chǎn)與質(zhì)量控制
適用于電鍍生產(chǎn)線的過程監(jiān)控。
成品進(jìn)廠時(shí)的質(zhì)量檢驗(yàn)。
2. 鍍層厚度測量
測量范圍：0.05 – 50 µm（具體范圍因材料而異）
高精度測量多種金屬鍍層。
支持的鍍層體系
類型示例
多層鍍層體系鐵或塑料（如ABS）基體上的：鉻/鎳/銅 多層系統(tǒng)
雙層鍍層體系銀或銅表面的鍍錫、鍍鎳
單層鍍層體系鐵基體上的鍍鋅等
額外應(yīng)用：STEP 測試專用功能
特別針對(duì) 銅、鐵、鋁或塑料（ABS）襯底 上的 多層鎳體系 設(shè)計(jì)。
STEP（電位差）測試 可區(qū)分并評(píng)估多層鎳中不同鎳層（如半光亮鎳、高硫鎳、光亮鎳）的電化學(xué)性能，用于防腐性能分析。
顯著拓展了儀器在復(fù)雜電鍍工藝中的應(yīng)用邊界。
