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菲希爾鍍層測(cè)厚儀XULM240產(chǎn)品信息
點(diǎn)擊次數(shù)：114 更新時(shí)間：2025-04-27 打印本頁(yè)面 返回
菲希爾XULM240 FISCHER代理核心測(cè)量性能
菲希爾X射線測(cè)厚儀XULM240寬泛量程與高精度
可測(cè)量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）
標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)下精度達(dá)±5%（如Au層＞0.1μm時(shí)），無校準(zhǔn)模式精度±10%
重復(fù)精度優(yōu)異，例如80nm金層的重復(fù)性誤差僅±2.5nm
微區(qū)測(cè)量能力
微聚焦X射線管設(shè)計(jì)，最小測(cè)量點(diǎn)達(dá)100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結(jié)構(gòu)
比例計(jì)數(shù)器支持高達(dá)數(shù)千cps的計(jì)數(shù)率，提升測(cè)量效率
多層與合金分析
支持單層、雙層（含合金層）、三層鍍層測(cè)量（如Cr/Ni/Cu/ABS）
通過基本參數(shù)法（FP法）無需標(biāo)準(zhǔn)片即可分析固態(tài)/液態(tài)樣品成分
