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FISCHER膜厚儀用實(shí)力體現(xiàn)出價(jià)值
點(diǎn)擊次數(shù)：2046 更新時(shí)間：2018-11-26 打印本頁(yè)面 返回
FISCHER膜厚儀用實(shí)力體現(xiàn)出價(jià)值
FISCHER膜厚儀用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。
FISCHER膜厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度，位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。FISCHER膜厚儀利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度，測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
FISCHER膜厚儀測(cè)量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)恒要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕腇ISCHER膜厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試時(shí)要注意FISCHER膜厚儀測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此FISCHER膜厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求，應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。FISCHER膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，堅(jiān)固耐用，用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式射線熒光分析設(shè)備，提供簡(jiǎn)單，快速，無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
